Forskjellen mellom AFM og STM

AFM vs STM

AFM refererer til Atomic Force Microscope og STM refererer til Scanning Tunneling Microscope. Utviklingen av disse to mikroskoper regnes som en revolusjon i atom- og molekylære felt.

Når du snakker om AFM, fanger det nøyaktige bilder ved å flytte et nanometerstort spiss over overflaten av bildet. STM fanger bilder ved hjelp av kvante tunneling.

Av de to mikroskopene var Scanning Tunneling Microscope den første som ble utviklet.

I motsetning til STM, gjør sonden direkte kontakt med overflaten eller beregner begynnende kjemisk binding i AFM. STM-bildene indirekte ved å beregne kvantumgraden tunneling mellom han probe og prøve.

En annen forskjell som kan sees er at spissen i AFM berører overflaten, berører forsiktig overflaten, mens i STM holdes spissen i kort avstand fra overflaten.

Til forskjell fra STM måler ikke AFM tunnelstrømmen, men måler kun den lille kraften mellom overflaten og spissen.

Det har også blitt sett at AFM-oppløsningen er bedre enn STM. Derfor er AFM mye brukt i nano-teknologi. Når man snakker om avhengigheten mellom kraft og avstand, er AFM mer kompleks enn STM.

Når Scanning Tunneling Microscope er normalt gjeldende for ledere, er Atomic Force Microscope gjeldende for både ledere og isolatorer. AFM passer godt med væske- og gassmiljøer, mens STM opererer kun i høyvakuum.

Sammenliknet med STM, gir AFM en mer direkte analog måling og bedre overflateegenskaper.

Sammendrag

1. AFM fanger nøyaktige bilder ved å flytte et nanometerstort spiss over overflaten av bildet. STM fanger bilder ved hjelp av kvante tunneling.

2. Sonden gir direkte kontakt med overflaten eller beregner begynnende kjemisk binding i AFM. STM-bildene indirekte ved å beregne kvantumgraden tunneling mellom han probe og prøve.

3. Spissen i AFM berører overflaten og berører overflaten forsiktig, mens i STM holdes spissen i kort avstand fra overflaten.

4. AFM-oppløsning er bedre enn STM. Derfor er AFM mye brukt i nano-teknologi.

5. Når Scanning Tunneling Microscope er normalt gjeldende for ledere, er Atomic Force Microscope gjeldende for både ledere og isolatorer.

6. AFM passer godt med væske- og gassmiljøer, mens STM opererer kun i høyvakuum.

7. Av de to mikroskopene var skanningstunnelmikroskopet det første som ble utviklet.